全自动晶粒外观检测机

该设备主要针对GPP或TVS晶圆开发的一种高端芯粒外观检测设备，搭配自动上下料，上下双CCD外观检测，可剔除不满足品质标准的外观缺陷芯粒。

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全自动晶粒外观检测机

该设备主要针对GPP或TVS晶圆开发的一种高端芯粒外观检测设备，搭配自动上下料，上下双CCD外观检测，可剔除不满足品质标准的外观缺陷芯粒。

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产品描述

规格参数

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产品特点：

» 设备包含震荡盘进料、静电处理系统、玻璃旋转平台、传感器位移传感、上下双CCD外观检测、高频吹气下料等功能；
» 误判率低，P面误判率≤0.3%，N面误判率≤0.7%，综合误判率≤1%（产出率=1-不良率-误判率）；
» 视觉检测效率快，UPH≥100K/H；
» 曝光光源采用蓝光，对人眼无伤害；
» 高速CCD处理系统;
» 高精度DD马达旋转平台；
» 全中文操作界面，操作直观，简易，界面良好；